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XRF、LIBS和OES在PMI技術(shù)中有什么差別

近年來大家對(duì)安全性能、穩(wěn)定性、產(chǎn)品追溯性和政策法規(guī)實(shí)施等方面的觀念不斷增強(qiáng),材料檢驗(yàn)已變成整個(gè)制造行業(yè)、再生資源市場(chǎng)安全可靠和穩(wěn)定性計(jì)劃的關(guān)鍵構(gòu)成部分。雖說工業(yè)生產(chǎn)中材料應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范愈來愈具體,但對(duì)實(shí)地各種各樣PMI檢驗(yàn)的需求量也在逐步增多。手持式XRF、OES和手持式LIBS檢測(cè)儀全是用以迅速判定、精確和安全可靠分析的常用技術(shù),每一類機(jī)器設(shè)備都有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)


土壤重金屬光譜分析儀Vanta.jpg


手持X技術(shù)熒光:X射線熒光(XRF)是最常見的無損檢測(cè)技術(shù)(NDT)方法,為使用者帶來便攜式無損的數(shù)據(jù)分析技術(shù)手段,可帶來迅速、精確的數(shù)據(jù)分析結(jié)果。可以精確測(cè)量濃度低的輕元素,如硅、磷、硫、鋁和鎂。此外XRF對(duì)可測(cè)量的元素有局限,比鎂輕的元素不能用XRF測(cè)量,XRF的這些局限導(dǎo)致沒法對(duì)低碳不銹鋼材料、碳素鋼和低合金鋼等原材料開展分級(jí)管理,故此用XRF分析儀沒法測(cè)量碳含量。


光學(xué)發(fā)射光譜:光學(xué)發(fā)射光譜(OES)是一種光學(xué)方式,可用以檢驗(yàn)基本上所有類別的元素,包含不銹鋼、鎳和碳鋼等不同基材中的碳和輕元素。OES技術(shù)根據(jù)精確測(cè)量碳元素來分級(jí)材料,鑒別低碳或高碳不銹鋼等合金。OES儀器設(shè)備的總重量和外形尺寸因制造廠商而異,通??傊亓扛哌_(dá)45-60磅(20-27kg)之上,而且還要1個(gè)氬氣罐,依據(jù)所使用罐的外形尺寸,該罐的總重量約為20磅(9kg)。所以在一些高空作用或者操作不變的區(qū)域作業(yè)時(shí)可能需要協(xié)助。除此之外,當(dāng)應(yīng)用OES開展分析時(shí),每一個(gè)要分析的樣品都必須使用研磨設(shè)備開展樣品制備,該研磨設(shè)備使用鋯鋁氧化物質(zhì)砂盤來制備表面。樣品制備是一切OES解析中的一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié),要是樣品制備不當(dāng),會(huì)造成不理想和不準(zhǔn)確的結(jié)果。


激光誘導(dǎo)擊穿光譜:此項(xiàng)技術(shù)應(yīng)用現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展為1種便攜手持分析儀,可以精確測(cè)量碳,用以材料鑒別和材料分級(jí)。和OES相同,分析碳也要用到氬氣,不過無需用到外部裝置,像軟管、氬氣罐等裝置與儀器進(jìn)行連接使用,使用的是在儀器中自耗的氬氣罐。儀器用的是鋰電池、儀器重量小于6.5磅(2.9kg)。分析儀分析前也須要樣品制備,但儀器設(shè)備和砂光盤均采取手持規(guī)格都能夠裝在一個(gè)小箱子里,能夠簡(jiǎn)單做到將儀器設(shè)備運(yùn)輸?shù)礁呖兆鳂I(yè)區(qū)域和操作空間有限的區(qū)域,為用戶在現(xiàn)場(chǎng)碳分析環(huán)節(jié)中帶來真正意義上的手持便攜性。

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